Non-destructive testing using electromagnetic impedance spectroscopy
L.A. Williams; S.E. Faidi; S.B. Lyon; R.A. Cottis; K.R. Baldwin
- 作者L.A. Williams; S.E. Faidi; S.B. Lyon; R.A. Cottis; K.R. Baldwin
- 卷第35卷
- 印刷ISSN0010-938X
- 文件大小357.86KB
- 发表时间1993
- DOI10.1016/0010-938x(93)90222-3