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Functional versus random test generation for sequential circuits

Functional versus random test generation for sequential circuits

Margot Karam; Gabriele Saucier
  • 作者Margot Karam; Gabriele Saucier
  • 卷第4卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0923-8174
  • 电子ISSN1573-0727
  • 文件大小691.16KB
  • 发表时间1993-02
  • DOI10.1007/bf00971938
  • 页码33-41
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