Radiation tolerance of single-sided silicon microstrips

A. Holmes-Siedle; M. Robbins; S. Watts; P. Allport; R. Brenner; H.-G. Moser; S. Roe; J. Straver; P. Weilhammer; P. Chochula; I. Mikulec; S. Moszczynski; M. Turala; W. Dabrowski; P. Grybos; M. Idzik; D. Loukas; K. Misiakos; I. Siotis; K. Zachariadou; W. Dulinski; J. Michele; M. Schaeffer; R. Turchetta; P. Booth; J. Richardson; N. Smith; K. Gill; G. Hall; R. Sachdeva; S. Sotthibandhu; D. Vitè; R. Wheadon; C. Arrighi; P. Delpierre; M.-C. Habrard; J.-C. Clemens; T. Mouthuy; B.S. Avset; L. Evensen; A. Hanneborg; T.A. Hansen; D. Bisello; A. Giraldo; A. Paccagnella; L. Kurchaninov; E. Spiriti; R. Apsimon; P. Giubellino; L. Ramello; W.L. Prado da Silva; M. Krammer; M. Schuster

作者A. Holmes-Siedle; M. Robbins; S. Watts; P. Allport; R. Brenner; H.-G. Moser; S. Roe; J. Straver; P. Weilhammer; P. Chochula; I. Mikulec; S. Moszczynski; M. Turala; W. Dabrowski; P. Grybos; M. Idzik; D. Loukas; K. Misiakos; I. Siotis; K. Zachariadou; W. Dulinski; J. Michele; M. Schaeffer; R. Turchetta; P. Booth; J. Richardson; N. Smith; K. Gill; G. Hall; R. Sachdeva; S. Sotthibandhu; D. Vitè; R. Wheadon; C. Arrighi; P. Delpierre; M.-C. Habrard; J.-C. Clemens; T. Mouthuy; B.S. Avset; L. Evensen; A. Hanneborg; T.A. Hansen; D. Bisello; A. Giraldo; A. Paccagnella; L. Kurchaninov; E. Spiriti; R. Apsimon; P. Giubellino; L. Ramello; W.L. Prado da Silva; M. Krammer; M. Schuster
卷第339卷
期第3期
印刷ISSN0168-9002
文件大小1000.11KB
发表时间1994
DOI10.1016/0168-9002(94)90188-0
页码511-523

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Radiation tolerance of single-sided silicon microstrips