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[IEEE Comput. Soc. Press IEEE VLSI Test Symposium - Cherry Hill, NJ, USA (25-28 April 1994)] Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium - CMOS bridging fault modeling

[IEEE Comput. Soc. Press IEEE VLSI Test Symposium - Cherry Hill, NJ, USA (25-28 April 1994)] Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium - CMOS bridging fault modeling

Renovell, M.; Huc, P.; Bertrand, Y.

作者Renovell, M.; Huc, P.; Bertrand, Y.
文件大小454.42KB
发表时间1994
DOI10.1109/vtest.1994.292283
页码392-397

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