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Interface characterization of InAs/AlSb heterostructures by far infrared optical spectroscopy

Fuchs, F.; Schmitz, J.; Schwarz, K.; Wagner, J.; Ralston, J. D.; Koidl, P.; Gadaleta, C.; Scamarcio, G.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Fuchs, F.; Schmitz, J.; Schwarz, K.; Wagner, J.; Ralston, J. D.; Koidl, P.; Gadaleta, C.; Scamarcio, G.
卷第65卷
期第16期
印刷ISSN0003-6951
文件大小248.69KB
发表时间1994
DOI10.1063/1.112793