Identification and quantification of Cu contamination on GaAs surfaces
D. E. Sykes; A. Chew; D. D. Hall; P. A. Crapper; I. R. Grant; M. S. M. Lamb; M. Lunn; M. R. Brozel; P. Davies
- 作者D. E. Sykes; A. Chew; D. D. Hall; P. A. Crapper; I. R. Grant; M. S. M. Lamb; M. Lunn; M. R. Brozel; P. Davies
- 卷第21卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0142-2421
- 电子ISSN1096-9918
- 文件大小421.00KB
- 发表时间1994
- DOI10.1002/sia.740210108
- 页码51-55