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Investigations of loaded crack tips in NiAl by atomic force microscopy

Investigations of loaded crack tips in NiAl by atomic force microscopy

M. Göken; H. Vehoff; P. Neumann

作者M. Göken; H. Vehoff; P. Neumann
卷第33卷
期第7期
印刷ISSN0956-716X
文件大小418.65KB
发表时间1995
DOI10.1016/0956-716x(95)00347-x

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