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Test of the Peierls-Nabarro model for dislocations in silicon

Test of the Peierls-Nabarro model for dislocations in silicon

Ren, Q.; Joós, B.; Duesbery, M. S.
  • 期刊名称Physical Review B
  • 作者Ren, Q.; Joós, B.; Duesbery, M. S.
  • 卷第52卷
  • 期第18期
  • 印刷ISSN0163-1829
  • 电子ISSN1095-3795
  • 文件大小312.69KB
  • 发表时间1995-11-1
  • DOI10.1103/physrevb.52.13223
  • 页码13223-13228
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