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Strain diagnosis of (001) and (111) InGaAs layers by optical techniques

Strain diagnosis of (001) and (111) InGaAs layers by optical techniques

F. Calle; A. L. Alvarez; A. Sacedón; E. Calleja; E. Munoz

作者F. Calle; A. L. Alvarez; A. Sacedón; E. Calleja; E. Munoz
卷第152卷
期第1期
印刷ISSN1862-6319
文件大小470.30KB
发表时间1995
DOI10.1002/pssa.2211520120
页码201-209

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