发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

The methodology of testability prediction for sequential circuits

The methodology of testability prediction for sequential circuits

Shiyi Xu; G. P. Dias
  • 作者Shiyi Xu; G. P. Dias
  • 卷第11卷
  • 期第6期
  • 印刷ISSN1000-9000
  • 电子ISSN1860-4749
  • 文件大小779.53KB
  • 发表时间1996-11
  • DOI10.1007/bf02951616
  • 页码529-541
← 返回【学霸图书馆】主页