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Analytical approach to breakdown voltages in thin-film SOI power MOSFETs

Analytical approach to breakdown voltages in thin-film SOI power MOSFETs

Il-Jung Kim; Satoshi Matsumoto; Tatsuo Sakai; Toshiaki Yachi

作者Il-Jung Kim; Satoshi Matsumoto; Tatsuo Sakai; Toshiaki Yachi
卷第39卷
期第1期
印刷ISSN0038-1101
文件大小515.41KB
发表时间1996
DOI10.1016/0038-1101(95)00090-g
页码95-100

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