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Investigation of on-chip high temperature annealing of PMOS dosimeters

Investigation of on-chip high temperature annealing of PMOS dosimeters

Kelleher, A.; Lane, W.; Adams, L.
  • 期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
  • 作者Kelleher, A.; Lane, W.; Adams, L.
  • 卷第43卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0018-9499
  • 文件大小567.32KB
  • 发表时间1996-6
  • DOI10.1109/23.510746
  • 页码997-1001
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