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In Situ Investigation of the a-Si:H/C-Si Interface

In Situ Investigation of the a-Si:H/C-Si Interface

Feist, H.; Swiatkowski, C.; Elmiger, J. R.; Zipfel, M.; Kunst, M.

期刊名称MRS Proceedings
作者Feist, H.; Swiatkowski, C.; Elmiger, J. R.; Zipfel, M.; Kunst, M.
卷第420卷
电子ISSN1946-4274
文件大小290.29KB
发表时间1996-1
DOI10.1557/proc-420-449

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