发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

A data optimization test technique for characterizing embedded ADCs

A data optimization test technique for characterizing embedded ADCs

J. Raczkowycz; S. Allott; T. I. Pritchard

作者J. Raczkowycz; S. Allott; T. I. Pritchard
卷第9卷
印刷ISSN0923-8174
电子ISSN1573-0727
文件大小549.55KB
发表时间1996-0810
DOI10.1007/bf00137572
页码165-175

← 返回【学霸图书馆】主页