Characterization of homoepitaxial SiC layers

• 作者J. Schmitt; T. Troffer; K. Christiansen; M. Schadt; S. Christiansen; R. Helbig; G. Pensl; H.P. Strunk
• 印刷ISSN0022-0248
• 文件大小348.09KB
• 发表时间1997
• DOI10.1016/s0022-0248(96)00994-3
• 页码528-531