发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Behavior of Defects in Heavily Boron Doped Czochralski Silicon

Behavior of Defects in Heavily Boron Doped Czochralski Silicon

T. Ono; E. Asayama; H. Horie; M. Hourai; M. Sano; H. Tsuya; K. Nakai

作者T. Ono; E. Asayama; H. Horie; M. Hourai; M. Sano; H. Tsuya; K. Nakai
文件大小395.67KB
发表时间1997
DOI10.1143/JJAP.36.L249

← 返回【学霸图书馆】主页