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Determination of low energy (>160 keV) X-ray spectra and verification of transport calculations through silicon

Turinetti, J.R.; Critchfield, K.L.; Chavez, J.R.; Kemp, W.T.; Bellem, R.D.; Beutler, D.E.

期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
作者Turinetti, J.R.; Critchfield, K.L.; Chavez, J.R.; Kemp, W.T.; Bellem, R.D.; Beutler, D.E.
卷第44卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
文件大小574.45KB
发表时间1997
DOI10.1109/23.659017
页码2065-2070