Application of resonant X-ray emissions for molecular/electronic structure analysis of boron nitrides

• 作者Y. Muramatsu; H. Kouzuki; T. Kaneyoshi; M. Motoyama; A. Agui; S. Shin; H. Kato; J. Kawai
• 卷第65卷
• 期第2期
• 印刷ISSN0947-8396
• 电子ISSN1432-0630
• 文件大小170.86KB
• 发表时间1997-08
• DOI10.1007/s003390050564
• 页码191-194