A single exposure reflection moiré interferometric technique for complete curvature analysis of bent plates

• 作者G. Subramanian; A. Subramanian
• 卷第33卷
• 期第1期
• 印刷ISSN0039-2103
• 电子ISSN1475-1305
• 文件大小859.54KB
• 发表时间1997
• DOI10.1111/j.1475-1305.1997.tb01027.x
• 页码3-8