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High reliability InGaP/GaAs HBT

Pan, N.; Elliott, J.; Knowles, M.; Vu, D.P.; Kishimoto, K.; Twynam, J.K.; Sato, H.; Fresina, M.T.; Stillman, G.E.

期刊名称IEEE Electron Device Letters
作者Pan, N.; Elliott, J.; Knowles, M.; Vu, D.P.; Kishimoto, K.; Twynam, J.K.; Sato, H.; Fresina, M.T.; Stillman, G.E.
卷第19卷
期第4期
印刷ISSN0741-3106
电子ISSN1558-0563
文件大小97.59KB
发表时间1998-04
DOI10.1109/55.663532
页码115-117