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Embedded Parity and Two-Rail TSC Checkers with Error-Memorizing Capability

Embedded Parity and Two-Rail TSC Checkers with Error-Memorizing Capability

Tarnick, Steffen
  • 期刊名称VLSI Design
  • 作者Tarnick, Steffen
  • 卷第5卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN1065-514X
  • 电子ISSN1563-5171
  • 文件大小2578.54KB
  • 发表时间1998
  • DOI10.1155/1998/67574
  • 页码347-356
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