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Lateral interface effect on pulsed DC electromigration analysis

Lateral interface effect on pulsed DC electromigration analysis

P. Waltz; L. Arnaud; G. Lormand; G. Tartavel

作者P. Waltz; L. Arnaud; G. Lormand; G. Tartavel
卷第38卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小418.18KB
发表时间1998
DOI10.1016/s0026-2714(98)00116-4
页码1041-1046

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