Characterization of defect-related optical absorption in ZnGeP[sub 2]

Setzler, S. D.; Schunemann, P. G.; Pollak, T. M.; Ohmer, M. C.; Goldstein, J. T.; Hopkins, F. K.; Stevens, K. T.; Halliburton, L. E.; Giles, N. C.

期刊名称Journal of Applied Physics
作者Setzler, S. D.; Schunemann, P. G.; Pollak, T. M.; Ohmer, M. C.; Goldstein, J. T.; Hopkins, F. K.; Stevens, K. T.; Halliburton, L. E.; Giles, N. C.
卷第86卷
期第12期
印刷ISSN0021-8979
文件大小211.17KB
发表时间1999
DOI10.1063/1.371743

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