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Extraction of wafer-level defect density distributions to improve yield prediction

Extraction of wafer-level defect density distributions to improve yield prediction

Hess, C.; Weiland, L.H.
  • 期刊名称IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
  • 作者Hess, C.; Weiland, L.H.
  • 卷第12卷
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0894-6507
  • 文件大小676.56KB
  • 发表时间1999-5
  • DOI10.1109/66.762875
  • 页码175-183
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