Radiation damage tests of GaAs HV switches for MSGCs bias control
M.G. Bisogni; U. Bottigli; M.E. Fantacci; A. Stefanini; E. Bertolucci; M. Conti; P. Russo; A. Cola; F. Quaranta; L. Vasanelli; G. Stefanini
- 作者M.G. Bisogni; U. Bottigli; M.E. Fantacci; A. Stefanini; E. Bertolucci; M. Conti; P. Russo; A. Cola; F. Quaranta; L. Vasanelli; G. Stefanini
- 卷第426卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0168-9002
- 文件大小371.99KB
- 发表时间1999
- DOI10.1016/s0168-9002(98)01495-8
- 页码216-220