Degradation of MOSFETs on SIMOX by irradiation

• 作者T. Hakata; H. Ohyama; E. Simoen; C. Claeys; K. Miyahara; K. Kawamura; Y. Ogita; Y. Takami
• 卷第239卷
• 期第2期
• 印刷ISSN0236-5731
• 电子ISSN1588-2780
• 文件大小346.56KB
• 发表时间1999-02
• DOI10.1007/bf02349511
• 页码357-360