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Sequential fault modeling and test pattern generation for CMOS iterative logic arrays

Sequential fault modeling and test pattern generation for CMOS iterative logic arrays

Psarakis, M.; Gizopoulos, D.; Paschalis, A.; Zorian, Y.

作者Psarakis, M.; Gizopoulos, D.; Paschalis, A.; Zorian, Y.
卷第49卷
期第10期
文件大小505.52KB
发表时间2000
DOI10.1109/12.888044
页码1083-1099

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