Book Reviews
- 期刊名称Business History
- 作者Blackford, Mansel G.
- 卷第42卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0007-6791
- 电子ISSN1743-7938
- 文件大小127.16KB
- 发表时间2000-01
- DOI10.1080/00076790000000203
- 页码135-136
[IEEE 2006 International Conference on Power System Technology - Chongqing (2006.10.22-2006.10.26)] 2006 International Conference on Power System Technology - Calculation of Short-circuit Mechanical Strength for PowerformerWang Shishan, ; Liu Zeyuan, ; Li Yanming, ; Guo Yinna, ; Gao Hong, · 2006
Exact Calculation of Simultaneous Faults Involving Open Conductors and Line-to-Ground Short Circuits on Inherently Unbalanced Power SystemsRoy, L.; Rao, N.D. · 1982
Exact Calculation of Simultaneous Faults Involving Open Conductors and Line-to-Ground Short Circuits on Inherently Unbalanced Power SystemsRoy, L.; Rao, N. D. · 1982
[IEEE 2018 International Conference on Power System Technology (POWERCON) - Guangzhou, China (2018.11.6-2018.11.8)] 2018 International Conference on Power System Technology (POWERCON) - Calculation method of short-circuit currents in DFIG-based wind farms considering voltage distributionPan, Wenxia; Zhao, Kun; Liu, Mingyang · 2018
[IEEE 2011 International Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS) - Beijing, China (2011.08.20-2011.08.23)] 2011 International Conference on Electrical Machines and Systems - Short circuit current calculation and analysis of shipboard medium frequency power systemShi, Lei; Shan, Chaolong; Wu, Xusheng; Wang, Huaming · 2011
[IET 11th IET International Conference on Developments in Power Systems Protection (DPSP 2012) - Birmingham, UK (23-26 April 2012)] 11th IET International Conference on Developments in Power Systems Protection (DPSP 2012) - Short circuit current calculation of doubly fed induction generatorJie Ma, ; Debin Huang, ; Yi Tang, ; Changjing Wu, ; Luhua Xing, ; Qing Chen, · 2012
[IEEE 1994 IEEE International Conference on Industrial Technology - ICIT '94 - Guangzhou, China (5-9 Dec. 1994)] Proceedings of 1994 IEEE International Conference on Industrial Technology - ICIT '94 - The expert system method for the short circuit calculation of power systemFang Fuqi, ; Xiang Hua, ; Li Baigen, · 1994
Session 06: Oocyte/Embryo FreezingGorthi, S.; Wright, C.; Balen, A. H.; van Loendersloot, L. L.; Moolenaar, L. M.; Mol, B. W.; Repping, S.; van der Veen, F.; Goddijn, M.; Oka, C.; Goto, T.; Mukaida, T.; Takahashi, K.; Nagy, Z. P.; Chang, C. C.; Elliott, T. A.; Bernal, D. P.; Elsner, C. W.; Mitchell-Leef, D. M.; Kort, H. I.; Fasano, G.; Fontenelle, N.; Vannin, A. S.; Duez, M.; Biramane, J.; Emiliani, S.; Devreker, F.; Englert, Y.; Delbaere, A.; Sipe, C.; Pelts, E. J.; Matthews, J. M.; Sanchez, S. R.; Brohammer, R.; Wagner, Y.; Uhler, M.; Beltsos, A.; Liebermann, J. · Human Reproduction · 2010
mesonsAbe, Kenji; Abe, Koya; Abe, T.; Adam, I.; Akimoto, H.; Aston, D.; Baird, K. G.; Baltay, C.; Band, H. R.; Barklow, T. L.; Bauer, J. M.; Bellodi, G.; Berger, R.; Blaylock, G.; Bogart, J. R.; Bower, G. R.; Brau, J. E.; Breidenbach, M.; Bugg, W. M.; Burnett, T. H.; Burrows, P. N.; Calcaterra, A.; Cassell, R.; Chou, A.; Cohn, H. O.; Coller, J. A.; Convery, M. R.; Cowan, R. F.; Crawford, G.; Damerell, C. J. S.; Daoudi, M.; de Groot, N.; de Sangro, R.; Dong, D. N.; Doser, M.; Dubois, R.; Erofeeva, I.; Eschenburg, V.; Fahey, S.; Falciai, D.; Fernandez, J. P.; Flood, K.; Frey, R.; Hart, E. L.; Hasuko, K.; Hertzbach, S. S.; Huffer, M. E.; Iwasaki, M.; Jackson, D. J.; Jacques, P.; Jaros, J. A.; Jiang, Z. Y.; Johnson, A. S.; Johnson, J. R.; Kajikawa, R.; Kalelkar, M.; Kang, H. J.; Kofler, R. R.; Kroeger, R. S.; Langston, M.; Leith, D. W. G.; Lia, V.; Lin, C.; Mancinelli, G.; Manly, S.; Mantovani, G.; Markiewicz, T. W.; Maruyama, T.; McKemey, A. K.; Messner, R.; Moffeit, K. C.; Moore, T. B.; Morii, M.; Muller, D.; Murzin, V.; Narita, S.; Nauenberg, U.; Neal, H.; Nesom, G.; Oishi, N.; Onoprienko, D.; Panvini, R. S.; Park, C. H.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piemontese, L.; Plano, R. J.; Prepost, R.; Prescott, C. Y.; Ratcliff, B. N.; Reidy, J.; Reinertsen, P. L.; Rochester, L. S.; Rowson, P. C.; Russell, J. J.; Saxton, O. H.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Schwiening, J.; Serbo, V. V.; Shapiro, G.; Sinev, N. B.; Snyder, J. A.; Staengle, H.; Stahl, A.; Stamer, P.; Steiner, H.; Su, D.; Suekane, F.; Sugiyama, A.; Suzuki, S.; Swartz, M.; Taylor, F. E.; Thom, J.; Torrence, E.; Usher, T.; Va’vra, J.; Verdier, R.; Wagner, D. L.; Waite, A. P.; Walston, S.; Weidemann, A. W.; Weiss, E. R.; Whitaker, J. S.; Williams, S. H.; Willocq, S.; Wilson, R. J.; Wisniewski, W. J.; Wittlin, J. L.; Woods, M.; Wright, T. R.; Yamamoto, R. K.; Yashima, J.; Yellin, S. J.; Young, C. C.; Yuta, H. · Physical Review D · 2002
decaysAbe, Koya; Abe, Kenji; Abe, T.; Adam, I.; Akimoto, H.; Aston, D.; Baird, K. G.; Baltay, C.; Band, H. R.; Barklow, T. L.; Bauer, J. M.; Bellodi, G.; Berger, R.; Blaylock, G.; Bogart, J. R.; Bower, G. R.; Brau, J. E.; Breidenbach, M.; Bugg, W. M.; Burke, D.; Burnett, T. H.; Burrows, P. N.; Calcaterra, A.; Cassell, R.; Chou, A.; Cohn, H. O.; Coller, J. A.; Convery, M. R.; Cook, V.; Cowan, R. F.; Crawford, G.; Damerell, C. J. S.; Daoudi, M.; de Groot, N.; de Sangro, R.; Dong, D. N.; Doser, M.; Dubois, R.; Erofeeva, I.; Eschenburg, V.; Etzion, E.; Fahey, S.; Falciai, D.; Fernandez, J. P.; Flood, K.; Frey, R.; Hart, E. L.; Hasuko, K.; Hertzbach, S. S.; Huffer, M. E.; Huynh, X.; Iwasaki, M.; Jackson, D. J.; Jacques, P.; Jaros, J. A.; Jiang, Z. Y.; Johnson, A. S.; Johnson, J. R.; Kajikawa, R.; Kalelkar, M.; Kang, H. J.; Kofler, R. R.; Kroeger, R. S.; Langston, M.; Leith, D. W. G.; Lia, V.; Lin, C.; Mancinelli, G.; Manly, S.; Mantovani, G.; Markiewicz, T. W.; Maruyama, T.; McKemey, A. K.; Messner, R.; Moffeit, K. C.; Moore, T. B.; Morii, M.; Muller, D.; Murzin, V.; Narita, S.; Nauenberg, U.; Neal, H.; Nesom, G.; Oishi, N.; Onoprienko, D.; Osborne, L. S.; Panvini, R. S.; Park, C. H.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piemontese, L.; Plano, R. J.; Prepost, R.; Prescott, C. Y.; Ratcliff, B. N.; Reidy, J.; Reinertsen, P. L.; Rochester, L. S.; Rowson, P. C.; Russell, J. J.; Saxton, O. H.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Schwiening, J.; Serbo, V. V.; Shapiro, G.; Sinev, N. B.; Snyder, J. A.; Staengle, H.; Stahl, A.; Stamer, P.; Steiner, H.; Su, D.; Suekane, F.; Sugiyama, A.; Suzuki, A.; Swartz, M.; Taylor, F. E.; Thom, J.; Torrence, E.; Usher, T.; Va’vra, J.; Verdier, R.; Wagner, D. L.; Waite, A. P.; Walston, S.; Weidemann, A. W.; Weiss, E. R.; Whitaker, J. S.; Williams, S. H.; Willocq, S.; Wilson, R. J.; Wisniewski, W. J.; Wittlin, J. L.; Woods, M.; Wright, T. R.; Yamamoto, R. K.; Yashima, J.; Yellin, S. J.; Young, C. C.; Yuta, H. · Physical Review D · 2002
QuarkAbe, Koya; Abe, Kenji; Abe, T.; Adam, I.; Akimoto, H.; Aston, D.; Baird, K. G.; Baltay, C.; Band, H. R.; Barklow, T. L.; Bauer, J. M.; Bellodi, G.; Berger, R.; Blaylock, G.; Bogart, J. R.; Bower, G. R.; Brau, J. E.; Breidenbach, M.; Bugg, W. M.; Burke, D.; Burnett, T. H.; Burrows, P. N.; Calcaterra, A.; Cassell, R.; Chou, A.; Cohn, H. O.; Coller, J. A.; Convery, M. R.; Cook, V.; Cowan, R. F.; Crawford, G.; Damerell, C. J. S.; Daoudi, M.; de Groot, N.; de Sangro, R.; Dong, D. N.; Doser, M.; Dubois, R.; Erofeeva, I.; Eschenburg, V.; Etzion, E.; Fahey, S.; Falciai, D.; Fernandez, J. P.; Flood, K.; Frey, R.; Hart, E. L.; Hasuko, K.; Hertzbach, S. S.; Huffer, M. E.; Huynh, X.; Iwasaki, M.; Jackson, D. J.; Jacques, P.; Jaros, J. A.; Jiang, Z. Y.; Johnson, A. S.; Johnson, J. R.; Kajikawa, R.; Kalelkar, M.; Kang, H. J.; Kofler, R. R.; Kroeger, R. S.; Langston, M.; Leith, D. W. G.; Lia, V.; Lin, C.; Mancinelli, G.; Manly, S.; Mantovani, G.; Markiewicz, T. W.; Maruyama, T.; McKemey, A. K.; Messner, R.; Moffeit, K. C.; Moore, T. B.; Morii, M.; Muller, D.; Murzin, V.; Narita, S.; Nauenberg, U.; Neal, H.; Nesom, G.; Oishi, N.; Onoprienko, D.; Osborne, L. S.; Panvini, R. S.; Park, C. H.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piemontese, L.; Plano, R. J.; Prepost, R.; Prescott, C. Y.; Ratcliff, B. N.; Reidy, J.; Reinertsen, P. L.; Rochester, L. S.; Rowson, P. C.; Russell, J. J.; Saxton, O. H.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Schwiening, J.; Serbo, V. V.; Shapiro, G.; Sinev, N. B.; Snyder, J. A.; Staengle, H.; Stahl, A.; Stamer, P.; Steiner, H.; Su, D.; Suekane, F.; Sugiyama, A.; Suzuki, A.; Swartz, M.; Taylor, F. E.; Thom, J.; Torrence, E.; Usher, T.; Va'vra, J.; Verdier, R.; Wagner, D. L.; Waite, A. P.; Walston, S.; Weidemann, A. W.; Weiss, E. R.; Whitaker, J. S.; Williams, S. H.; Willocq, S.; Wilson, R. J.; Wisniewski, W. J.; Wittlin, J. L.; Woods, M.; Wright, T. R.; Yamamoto, R. K.; Yashima, J.; Yellin, S. J.; Young, C. C.; Yuta, H. · Physical Review Letters · 2000
BosonsAbe, Koya; Abe, Kenji; Abe, T.; Adam, I.; Akimoto, H.; Aston, D.; Baird, K. G.; Baltay, C.; Band, H. R.; Barklow, T. L.; Bauer, J. M.; Bellodi, G.; Berger, R.; Blaylock, G.; Bogart, J. R.; Bower, G. R.; Brau, J. E.; Breidenbach, M.; Bugg, W. M.; Burke, D.; Burnett, T. H.; Burrows, P. N.; Calcaterra, A.; Cassell, R.; Chou, A.; Cohn, H. O.; Coller, J. A.; Convery, M. R.; Cook, V.; Cowan, R. F.; Crawford, G.; Damerell, C. J. S.; Daoudi, M.; de Groot, N.; de Sangro, R.; Dong, D. N.; Doser, M.; Dubois, R.; Erofeeva, I.; Eschenburg, V.; Etzion, E.; Fahey, S.; Falciai, D.; Fernandez, J. P.; Flood, K.; Frey, R.; Hart, E. L.; Hasuko, K.; Hertzbach, S. S.; Huffer, M. E.; Huynh, X.; Iwasaki, M.; Jackson, D. J.; Jacques, P.; Jaros, J. A.; Jiang, Z. Y.; Johnson, A. S.; Johnson, J. R.; Kajikawa, R.; Kalelkar, M.; Kang, H. J.; Kofler, R. R.; Kroeger, R. S.; Langston, M.; Leith, D. W. G.; Lia, V.; Lin, C.; Mancinelli, G.; Manly, S.; Mantovani, G.; Markiewicz, T. W.; Maruyama, T.; McKemey, A. K.; Messner, R.; Moffeit, K. C.; Moore, T. B.; Morii, M.; Muller, D.; Murzin, V.; Narita, S.; Nauenberg, U.; Neal, H.; Nesom, G.; Oishi, N.; Onoprienko, D.; Osborne, L. S.; Panvini, R. S.; Park, C. H.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piemontese, L.; Plano, R. J.; Prepost, R.; Prescott, C. Y.; Ratcliff, B. N.; Reidy, J.; Reinertsen, P. L.; Rochester, L. S.; Rowson, P. C.; Russell, J. J.; Saxton, O. H.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Schwiening, J.; Serbo, V. V.; Shapiro, G.; Sinev, N. B.; Snyder, J. A.; Staengle, H.; Stahl, A.; Stamer, P.; Steiner, H.; Su, D.; Suekane, F.; Sugiyama, A.; Suzuki, S.; Swartz, M.; Taylor, F. E.; Thom, J.; Torrence, E.; Usher, T.; Va'vra, J.; Verdier, R.; Wagner, D. L.; Waite, A. P.; Walston, S.; Weidemann, A. W.; Weiss, E. R.; Whitaker, J. S.; Williams, S. H.; Willocq, S.; Wilson, R. J.; Wisniewski, W. J.; Wittlin, J. L.; Woods, M.; Wright, T. R.; Yamamoto, R. K.; Yashima, J.; Yellin, S. J.; Young, C. C.; Yuta, H. · Physical Review Letters · 2001
decaysAbe, Koya; Abe, Kenji; Abe, T.; Adam, I.; Akimoto, H.; Aston, D.; Baird, K. G.; Baltay, C.; Band, H. R.; Barklow, T. L.; Bauer, J. M.; Bellodi, G.; Berger, R.; Blaylock, G.; Bogart, J. R.; Bower, G. R.; Brau, J. E.; Breidenbach, M.; Bugg, W. M.; Burke, D.; Burnett, T. H.; Burrows, P. N.; Calcaterra, A.; Cassell, R.; Chou, A.; Cohn, H. O.; Coller, J. A.; Convery, M. R.; Cook, V.; Cowan, R. F.; Crawford, G.; Damerell, C. J. S.; Daoudi, M.; Dasu, S.; de Groot, N.; de Sangro, R.; Dong, D. N.; Doser, M.; Dubois, R.; Erofeeva, I.; Eschenburg, V.; Etzion, E.; Fahey, S.; Falciai, D.; Fernandez, J. P.; Flood, K.; Frey, R.; Hart, E. L.; Hasuko, K.; Hertzbach, S. S.; Huffer, M. E.; Huynh, X.; Iwasaki, M.; Jackson, D. J.; Jacques, P.; Jaros, J. A.; Jiang, Z. Y.; Johnson, A. S.; Johnson, J. R.; Kajikawa, R.; Kalelkar, M.; Kang, H. J.; Kofler, R. R.; Kroeger, R. S.; Langston, M.; Leith, D. W. G.; Lia, V.; Lin, C.; Mancinelli, G.; Manly, S.; Mantovani, G.; Markiewicz, T. W.; Maruyama, T.; McKemey, A. K.; Messner, R.; Moffeit, K. C.; Moore, T. B.; Morii, M.; Muller, D.; Murzin, V.; Narita, S.; Nauenberg, U.; Neal, H.; Nesom, G.; Oishi, N.; Onoprienko, D.; Osborne, L. S.; Panvini, R. S.; Park, C. H.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piemontese, L.; Plano, R. J.; Prepost, R.; Prescott, C. Y.; Ratcliff, B. N.; Reidy, J.; Reinertsen, P. L.; Rochester, L. S.; Rowson, P. C.; Russell, J. J.; Saxton, O. H.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Schwiening, J.; Serbo, V. V.; Shapiro, G.; Sinev, N. B.; Snyder, J. A.; Staengle, H.; Stahl, A.; Stamer, P.; Steiner, H.; Su, D.; Suekane, F.; Sugiyama, A.; Suzuki, A.; Swartz, M.; Taylor, F. E.; Thom, J.; Torrence, E.; Usher, T.; Va’vra, J.; Verdier, R.; Wagner, D. L.; Waite, A. P.; Walston, S.; Weidemann, A. W.; Weiss, E. R.; Whitaker, J. S.; Williams, S. H.; Willocq, S.; Wilson, R. J.; Wisniewski, W. J.; Wittlin, J. L.; Woods, M.; Wright, T. R.; Yamamoto, R. K.; Yashima, J.; Yellin, S. J.; Young, C. C.; Yuta, H. · Physical Review D · 2004
Decays toAbe, Koya; Abe, Kenji; Abe, T.; Adam, I.; Akimoto, H.; Aston, D.; Baird, K. G.; Baltay, C.; Band, H. R.; Barklow, T. L.; Bauer, J. M.; Bellodi, G.; Berger, R.; Blaylock, G.; Bogart, J. R.; Bower, G. R.; Brau, J. E.; Breidenbach, M.; Bugg, W. M.; Burke, D.; Burnett, T. H.; Burrows, P. N.; Calcaterra, A.; Cassell, R.; Chou, A.; Cohn, H. O.; Coller, J. A.; Convery, M. R.; Cook, V.; Cowan, R. F.; Crawford, G.; Damerell, C. J. S.; Daoudi, M.; de Groot, N.; de Sangro, R.; Dong, D. N.; Doser, M.; Dubois, R.; Erofeeva, I.; Eschenburg, V.; Etzion, E.; Fahey, S.; Falciai, D.; Fernandez, J. P.; Flood, K.; Frey, R.; Hart, E. L.; Hasuko, K.; Hertzbach, S. S.; Huffer, M. E.; Huynh, X.; Iwasaki, M.; Jackson, D. J.; Jacques, P.; Jaros, J. A.; Jiang, Z. Y.; Johnson, A. S.; Johnson, J. R.; Kajikawa, R.; Kalelkar, M.; Kang, H. J.; Kofler, R. R.; Kroeger, R. S.; Langston, M.; Leith, D. W. G.; Lia, V.; Lin, C.; Mancinelli, G.; Manly, S.; Mantovani, G.; Markiewicz, T. W.; Maruyama, T.; McKemey, A. K.; Messner, R.; Moffeit, K. C.; Moore, T. B.; Morii, M.; Muller, D.; Murzin, V.; Narita, S.; Nauenberg, U.; Neal, H.; Nesom, G.; Oishi, N.; Onoprienko, D.; Osborne, L. S.; Panvini, R. S.; Park, C. H.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piemontese, L.; Plano, R. J.; Prepost, R.; Prescott, C. Y.; Ratcliff, B. N.; Reidy, J.; Reinertsen, P. L.; Rochester, L. S.; Rowson, P. C.; Russell, J. J.; Saxton, O. H.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Schwiening, J.; Serbo, V. V.; Shapiro, G.; Sinev, N. B.; Snyder, J. A.; Staengle, H.; Stahl, A.; Stamer, P.; Steiner, H.; Su, D.; Suekane, F.; Sugiyama, A.; Suzuki, A.; Swartz, M.; Taylor, F. E.; Thom, J.; Torrence, E.; Usher, T.; Va'vra, J.; Verdier, R.; Wagner, D. L.; Waite, A. P.; Walston, S.; Weidemann, A. W.; Weiss, E. R.; Whitaker, J. S.; Williams, S. H.; Willocq, S.; Wilson, R. J.; Wisniewski, W. J.; Wittlin, J. L.; Woods, M.; Wright, T. R.; Yamamoto, R. K.; Yashima, J.; Yellin, S. J.; Young, C. C.; Yuta, H. · Physical Review Letters · 2001
Meet Our Regional EditorBenedetto, Francesco · Recent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2018
Meet Our Associate EditorCheng, Qiang · Recent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2018
Acknowledgements to ReviewersRecent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2018
Meet Our Section EditorZobaa, A.F. · Recent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2018
PrefaceZhou, Huiyu · Recent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2018
Preface:Zhou, Huiyu · Recent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2016
Acknowledgements to ReviewersRecent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2017
PrefaceZhou, Huiyu · Recent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering) · 2019