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Design methodology of a robust ESD protection circuit for STI process 256 Mb NAND flash memory

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Ikehashi, T.; Imamiya, K.; Sakui, K.
  • 期刊名称IEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing
  • 作者Ikehashi, T.; Imamiya, K.; Sakui, K.
  • 卷第23卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN1521-334X
  • 文件大小13.58KB
  • 发表时间2000-10
  • DOI10.1109/tepm.2000.895053
  • 页码235-235
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