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Full band Monte Carlo modeling of impact ionization, avalanche multiplication, and noise in submicron GaAs p[sup +]-i-n[sup +] diodes

Ong, D. S.; Li, K. F.; Plimmer, S. A.; Rees, G. J.; David, J. P. R.; Robson, P. N.

期刊名称Journal of Applied Physics
作者Ong, D. S.; Li, K. F.; Plimmer, S. A.; Rees, G. J.; David, J. P. R.; Robson, P. N.
卷第87卷
期第11期
印刷ISSN0021-8979
文件大小403.43KB
发表时间2000
DOI10.1063/1.373472