Application of spline wavelet transformation to the analysis of extended energy-loss fine structure
- 期刊名称Journal of Electron Microscopy
- 作者Muto, S.
- 卷第49卷
- 期第4期
- 印刷ISSN0022-0744
- 电子ISSN1477-9986
- 文件大小407.58KB
- 发表时间2000-01-01
- DOI10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023839
- 页码525-529
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