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Light Intensity Exponents as Sensitive Tools for the Detection of Impurities in a-Si:H

Fonseca, L. F.; Weisz, S.Z.; Alpuim, P.; Chu, V.; Conde, J.P.; Naides, R.; Balberg, I.

期刊名称MRS Proceedings
作者Fonseca, L. F.; Weisz, S.Z.; Alpuim, P.; Chu, V.; Conde, J.P.; Naides, R.; Balberg, I.
卷第609卷
电子ISSN1946-4274
文件大小177.58KB
发表时间2000-1
DOI10.1557/proc-609-a27.5