Fluctuation microscopy: a probe of atomic correlations in disordered materials

• 期刊名称Journal of Electron Microscopy
• 作者Voyles, P. M.; Gibson, J. M.; Treacy, M. M. J.
• 卷第49卷
• 期第2期
• 印刷ISSN0022-0744
• 电子ISSN1477-9986
• 文件大小7716.59KB
• 发表时间2000-01-01
• DOI10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023805
• 页码259-266