FDTD and experimental investigation of EMI from stacked-card PCB configurations
Hockanson, D.M.; Xiaoning Ye; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Dubroff, R.E.
- 作者Hockanson, D.M.; Xiaoning Ye; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Dubroff, R.E.
- 卷第43卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0018-9375
- 电子ISSN1558-187X
- 文件大小391.14KB
- 发表时间2001
- DOI10.1109/15.917923
- 页码1-10