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Coverage metrics for functional validation of hardware designs

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Tasiran, S.; Keutzer, K.
  • 期刊名称IEEE Design & Test of Computers
  • 作者Tasiran, S.; Keutzer, K.
  • 卷第18卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0740-7475
  • 文件大小125.45KB
  • 发表时间2001
  • DOI10.1109/54.936247
  • 页码36-45
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