学霸图书馆
首页
下载客户端
登录
游客
会员中心
修改密码
VIP升级
退出登录
发现好书期刊,享受阅读乐趣
海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣
全部
期刊
图书
搜索
Tritium depth dependence of tritium imaging
Youle, I.; Haasz, A. A.
期刊名称
Review of Scientific Instruments
作者
Youle, I.; Haasz, A. A.
卷
第72卷
期
第6期
印刷ISSN
0034-6748
文件大小
349.90KB
发表时间
2001
DOI
10.1063/1.1357231
← 返回【学霸图书馆】主页