Regulating Externalities in the Power Sector: Some Lessons from Previous Valuation Studies
- 期刊名称Minerals and Energy - Raw Materials Report
- 作者Sundqvist, Thomas
- 卷第16卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1404-1049
- 电子ISSN0000-0000
- 文件大小230.69KB
- 发表时间2001-3-1
- DOI10.1080/14041040151142372
- 页码14-31
<title>Laser produced plasma EUV sources for device development and HVM</title>D. C. Brandt; I. V. Fomenkov; M. J. Lercel; B. M. La Fontaine; D. W. Myers; D. J. Brown; A. I. Ershov; R. L. Sandstrom; A. N. Bykanov; G. O. Vaschenko; N. R. Böwering; P. Das; V. B. Fleurov; K. Zhang; S. N. Srivastava; I. Ahmad; C. Rajyaguru; S. De Dea; W. J. Dunstan; P. Baumgart; T. Ishihara; R. D. Simmons; R. N. Jacques; R. A. Bergstedt; P. I. Porshnev; C. J. Wittak; M. R. Woolston; R. J. Rafac; J. Grava; A. A. Schafgans; Y. Tao; P. P. Naulleau; O. R. Wood Ii
Room temperature carrier transport in grapheneR. S. Shishir; F. Chen; J. Xia; N. J. Tao; D. K. Ferry · 2009
Recent spread of FMD virus serotype Asia 1Valarcher, J. F.; Knowles, N. J.; Ferris, N. P.; Paton, D. J.; Zakharov, V.; Sherbakov, A.; You-jun, S.; Zai-xin, L.; Xiang-tao, L.; Sanyal, A.; Hemadri, D.; Tosh, C.; Rasool, T. J. · Veterinary Record · 2005
Magnetic-field-assisted assembly of metal/polymer/metal junction sensorsH. Zhang; S. Boussaad; N. Ly; N. J. Tao · 2004
The ANTARES ProjectPh. Amram; S. Anvar; E. Aslanides; J.J. Aubert; R. Azoulay; S. Basa; Y. Benhammou; F. Bernard; R. Berthier; V. Bertin; M. Billault; S. Biller; F. Blanc; P.E. Blanc; R.W. Bland; F. Blondeau; N. de Botton; N. Botti; J. Boulesteix; B. Brooks; J. Brunner; A. Calzas; C. Carloganu; J. Carr; P.H. Carton; S. Cartwright; R. Cases; F. Cassol; F. Charles; J. Charles; F. Desages; J.J. Destelle; G. Dispau; P.Y. Duval; J. Engelen; F. Feinstein; E.C. Flores; J. Fopma; J.L. Fuda; P. Goret; L. Gosset; J.F. Gournay; J.J. Hernandez; F. Hubaut; R. Hubbard; D. Huss; M. Jaquet; N. Jelley; E. Kajfasz; A. Kouchner; V. Kudryavtsev; D. Lachartre; H. Lafoux; P. Lamare; J.C. Languillat; J.P. Laugier; H. Le Provost; D. Loiseau; S. Loucatos; P. Magnier; K. Marc; M. Marcelin; L. Martin; B. Mazeau; A. Mazure; J. McMillan; C. Meessen; C. Millot; P. Mols; F. Montanet; M. Moorhead; L. Moscoso; S. Navas; Van Nooren; C. Olivetto; N. Palanque-Delabrouille; A. Pallares; P. Payre; P. Perrin; J. Poinsignon; R. Potheau; Z. Qian; M. Raymond; J. Roberts; Y. Sacquin; J.P Schuller; W. Schuster; N. Spooner; T. Stolarczyk; A. Tabary; M Talby; C. Tao; L. Thompson; R. Triay; M. Valdy; J. Velasco; E. Vigeolas; D. Vignaud; D. Vilanova; D. Wark; J. Zuniga · 1999
Electron transport in molecular junctionsTao, N. J. · 2006
Surface Impedance Imaging TechniqueFoley, Kyle J.; Shan, Xiaonan; Tao, N. J. · Analytical Chemistry · 2008