Source Material Related Distribution of Defects in 6H-SiC Single Crystals
Rost, H. J.; Siche, D.; Dolle, J.; Schulz, D.; Wollweber, Jürgen
- 期刊名称Materials Science Forum
- 作者Rost, H. J.; Siche, D.; Dolle, J.; Schulz, D.; Wollweber, Jürgen
- 电子ISSN1662-9752
- 文件大小365.82KB
- 发表时间2001
- DOI10.4028/www.scientific.net/MSF.353-356.263
- 页码263-266