X-ray photoemission spectroscopy study of silicidation of Ti on BF[sub 2][sup +]-implanted polysilicon
H. N. Chua; K. L. Pey; W. H. Lai; J. W. Chai; J. S. Pan; D. H. C. Chua; S. Y. Siah
- 作者H. N. Chua; K. L. Pey; W. H. Lai; J. W. Chai; J. S. Pan; D. H. C. Chua; S. Y. Siah
- 文件大小628.75KB
- 发表时间2001
- DOI10.1116/1.1421565