RTL Design Validation, DFT and Test Pattern Generation for High Defects Coverage

• 作者M.B. Santos; F.M. Gonçalves; I.C. Teixeira; J.P. Teixeira
• 卷第18卷
• 期第2期
• 印刷ISSN0923-8174
• 电子ISSN1573-0727
• 文件大小308.20KB
• 发表时间2002-04
• DOI10.1023/a:1014997610714
• 页码179-187