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Optical characterization of thin layers according to the confinement model

Optical characterization of thin layers according to the confinement model

M. Delgado; E. Delgado
  • 作者M. Delgado; E. Delgado
  • 卷第113卷
  • 期第6期
  • 文件大小201.60KB
  • 发表时间2002
  • DOI10.1078/0030-4026-00161
  • 页码251-259
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