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Exploring the limits of Arrhenius-based life testing with heterojunction bipolar transistor technology

R. Petersen; W. De Ceuninck; J. D’Haen; M. D’Olieslager; L. De Schepper; O. Vendier; H. Blanck; D. Pons

作者R. Petersen; W. De Ceuninck; J. D’Haen; M. D’Olieslager; L. De Schepper; O. Vendier; H. Blanck; D. Pons
卷第42卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小633.51KB
发表时间2002
DOI10.1016/s0026-2714(02)00149-x
页码1359-1363