A radiation damage test for double-sided silicon strip detectors

Y. Iwata; T. Ohsugi; M. Ikeda; H. Kitabayashi; T. Ohmoto; T. Kondo; Y. Unno; S. Terada; T. Kohriki; R. Takashima

作者Y. Iwata; T. Ohsugi; M. Ikeda; H. Kitabayashi; T. Ohmoto; T. Kondo; Y. Unno; S. Terada; T. Kohriki; R. Takashima
卷第489卷
印刷ISSN0168-9002
文件大小322.80KB
发表时间2002
DOI10.1016/s0168-9002(02)00892-6
页码114-120

发现好书期刊，享受阅读乐趣