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Influence of electron–electron scattering on the hot electron distribution in ultra-short Si-MOSFETs

Influence of electron–electron scattering on the hot electron distribution in ultra-short Si-MOSFETs

J. Jakumeit; U. Ravaioli

作者J. Jakumeit; U. Ravaioli
卷第314卷
印刷ISSN0921-4526
文件大小79.54KB
发表时间2002
DOI10.1016/s0921-4526(01)01426-0
页码363-366

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