Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction
C. Trager-Cowan; F. Sweeney; J. Hastie; S. K. Manson-Smith; D. A. Cowan; D. McColl; A. Mohammed; K. P. O’Donnell; D. Zubia; S. D. Hersee; C. T. Foxon; I. Harrison; S. V. Novikov
- 作者C. Trager-Cowan; F. Sweeney; J. Hastie; S. K. Manson-Smith; D. A. Cowan; D. McColl; A. Mohammed; K. P. O’Donnell; D. Zubia; S. D. Hersee; C. T. Foxon; I. Harrison; S. V. Novikov
- 卷第205卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0022-2720
- 电子ISSN1365-2818
- 文件大小478.70KB
- 发表时间2002
- DOI10.1046/j.1365-2818.2002.00996.x
- 页码226-230