发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

Microstructure Characterization of Dislocation Wall Structure in Aluminum Using Transmission Electron Microscopy

Microstructure Characterization of Dislocation Wall Structure in Aluminum Using Transmission Electron Microscopy

Gan, J.; Vetrano, J. S.; Khaleel, M. A.
  • 期刊名称Journal of Engineering Materials and Technology
  • 作者Gan, J.; Vetrano, J. S.; Khaleel, M. A.
  • 卷第124卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0094-4289
  • 文件大小753.86KB
  • 发表时间2002
  • DOI10.1115/1.1479178
← 返回【学霸图书馆】主页