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Characterization of Boron Containing Graphite Using TEM and EELS

Characterization of Boron Containing Graphite Using TEM and EELS

Kim, J.S.; Kim, S.J.; Kim, G.H.; Chun, C.H.; H.H. Koo,

期刊名称Microscopy and Microanalysis
作者Kim, J.S.; Kim, S.J.; Kim, G.H.; Chun, C.H.; H.H. Koo,
卷第8卷
印刷ISSN1431-9276
电子ISSN1435-8115
文件大小420.65KB
发表时间2002-08
DOI10.1017/s143192760210599x
页码610-611

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