Contributions of Inelastically Scattered Electrons to Defect Images

• 期刊名称Microscopy and Microanalysis
• 作者Kirk, M. A.; Twesten, R.; Martin, S. P.; Hetherington, C. J. D.; Jenkins, M. L.
• 卷第8卷
• 印刷ISSN1431-9276
• 电子ISSN1435-8115
• 文件大小243.38KB
• 发表时间2002-08
• DOI10.1017/s1431927602106052
• 页码622-623