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2D test sequence generators

2D test sequence generators

Mrugalski, G.; Tyszer, J.; Rajski, J.

期刊名称IEEE Design & Test of Computers
作者Mrugalski, G.; Tyszer, J.; Rajski, J.
卷第20卷
期第1期
印刷ISSN0740-7475
文件大小266.72KB
发表时间2003-01
DOI10.1109/mdt.2003.1173053
页码51-59

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