Test vector decomposition-based static compaction algorithms for combinational circuits
El-Maleh, Aiman H.; Osais, Yahya E.
- 期刊名称ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems
- 作者El-Maleh, Aiman H.; Osais, Yahya E.
- 卷第8卷
- 期第4期
- 印刷ISSN1084-4309
- 文件大小264.77KB
- 发表时间2003-10-01
- DOI10.1145/944027.944030
- 页码430-459